测绘平面怎么测量尺寸

测绘测量平面尺寸的方法有多种，以下是一些常用的方法：

塞规/塞尺测量法

使用一套可随身携带的塞尺进行平面度的粗测。这种方法精度不高，最薄塞尺为10um，适用于零件边缘的检测，且检测效率较低，结果不够全面。

激光平面干涉仪测量法

主要用于测量光洁的小平面，例如千分头测量面、量规的工作面、光学透镜等。通过平晶干涉法，利用光学平晶的工作面体现理想平面，直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差。

打表测量法

典型应用为平板测微仪及三坐标仪，尤其是三坐标仪应用最广泛。测量时指示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据，再经过数据处理评定出平面度误差。这种方法全系标配高精度直线导轨，采用新型传动使用专利技术，人性化的人机界面可编程自动检测，大大提高测量效率，可以快速测量平整度，节约人工成本。

三坐标测量仪

通过测量仪上的指示器在待测样品上移动，按选定的布点测取各测量点相对于测量基准的数据，再经过数据处理评定出平面度误差。三坐标测量仪具有高精度和高效性，适用于各种复杂平面的测量。

二次元影像测量仪

利用光学成像和图像处理技术测量平面尺寸。这种方法适用于测量精度要求较高的平面，可以获取平面上的详细特征和尺寸信息。

液平面法

通过测量液体在平面上的液面高度来间接判断平面的平整度。这种方法适用于需要间接测量平面度的场合。

水平仪/数字水平仪测量法

使用水平仪测量平面的水平性，通过观察水平仪上的气泡是否稳定来判断平面是否水平。这种方法适用于快速检查平面的水平状态。

经纬仪和钢尺测量法

使用经纬仪和钢尺进行平面测量，适用于测量较大范围内的平面尺寸。这种方法需要两点坐标控制点，精度较高。

在进行平面尺寸测绘时，通常需要先进行准备工作，包括清理现场、确定测量对象和范围、准备必要的测量工具和设备。然后建立基准点，进行测量，并绘制图纸。最后对测量结果进行校正和核对，编制报告并进行存档。这些步骤可以确保测量的准确性和可靠性，并在需要时提供可靠的参考和依据。