配件测绘方法有几种

配件测绘方法可以分为以下几种：

直接测量：

直接测量被测参数来获得被测尺寸，例如用卡尺、比较仪测量。

间接测量：

测量与被测尺寸有关的几何参数，经过计算获得被测尺寸。

接触测量：

测量头与被接触表面接触，并有机械作用的测量力存在，如用千分尺测量零件。

非接触测量：

测量头不与被测零件表面相接触，非接触测量可避免测量力对测量结果的影响，例如利用投影法、光波干涉法测量等。

单项测量：

对被测零件的每个参数分别单独测量。

综合测量：

测量反映零件有关参数的综合指标，例如用工具显微镜测量螺纹时，可分别测量出螺纹实际中径、牙型半角误差和螺距累积误差等。

主动测量：

工件在加工过程中进行测量，其结果直接用来控制零件的加工过程，从而及时防治废品的产生。

被动测量：

工件加工后进行的测量，此种测量只能判别加工件是否合格，仅限于发现并剔除废品。

静态测量：

测量相对静止，例如千分尺测量直径。

动态测量：

测量时被测表面与测量头模拟工作状态中作相对运动。